更新時間：2020-08-18   點擊次數：4207次

 　　雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關鍵技術指標。它是分析誤差的主要來源,它直接限制被分析測試樣品濃度的上限。

　　當一臺紫外可見分光光度計的雜散光一定時,被分析的試樣濃度越大,其分析誤差就越大。astm認為:“雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來源。尤其對高濃度的分析測試時,雜散光更加重要”。

　　雜散光對分析測試結果的誤差影響是隨著吸光度值增大而增大的。因此,吸光度值越大,對誤差的影響也越大。

　　產生雜散光的原因很多,其主要的原因大致有以下9個方面:

　　1.灰塵沾污光學元件(如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等)。

　　2.單色器內壁黑化處理不當。

　　3.準直系統內部或有關隔板邊緣的反射。

　　4.狹縫的缺陷。

　　5.熱輻射或熒光引起的二次電子發射。

　　6.光學系統屏蔽不好。

　　7.光束孔徑不匹配。

　　8.光學系統的像差。

　　9.光學元件被損傷,或光學元件產生的其他缺陷(如光柵、透鏡、反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等)。

　　以上9個方面中,光柵是雜散光的主要來源。它產生的雜散光占總雜散光的80%以上。

　　雜散光的測試方法

　　目前,測試雜散光常用的方法是所謂“截止濾光法”(thecutofffiltermethod)或稱作“濾光片法”(thefiltermethod)。主要是采用濾光片或濾光液來測試紫外可見分光光度計的雜散光。有時也采用he-ne激光器的632.8nm來測試雜散光。具體做法是在離632.8nm±5nm處進行測試,測出的數值與632.8nm相比就是雜散光。

　　“截止濾光法”的具體測試方法:儀器冷態開機,預熱0.5h,如用“濾光片法”測試,則參比為空氣;如用濾光液來測試,則參比為溶劑(若用nai、nano2水溶液,則參比為蒸餾水)。設置儀器的縱坐標為%t,橫坐標為波長nm),用濾光液時,試樣比色皿中裝濾光液,參比比色皿中裝溶解液,將波長調到相應的波長上(nai為220nm、nano2為340nm)進行測試。